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紅外檢測(cè)晶圓雜質(zhì)

2022-12-19 11:04:13
次
紅外檢測(cè)晶圓雜質(zhì)
詳細(xì)介紹：

樣品：晶圓

檢測(cè)要求：內(nèi)部雜質(zhì)

方案：因?yàn)殡s質(zhì)在晶圓內(nèi)部，無法通過可見光在表面識(shí)別，需通過紅外透過晶圓成像檢測(cè)

設(shè)備圖片：

IMG_20221013_130245.jpg

效果圖片：

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