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上海鏡片反射率測定儀 USPM-RU-W

上海鏡片反射率測定儀 USPM-RU-W

  • 所屬分類:上海鏡片反射率測定儀
  • 瀏覽次數(shù):
  • 發(fā)布日期:2024-05-22 09:44:31
  • 產(chǎn)品概述
  • 技術(shù)規(guī)格

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計(jì)所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率,因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。


實(shí)的測定功能

使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。


測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。

鏡片反射率測定儀

測定膜厚

活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。


鏡片反射率測定儀


測定物體顏色

根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。


鏡片反射率測定儀


測定透過率 (選配)

從受臺(tái)下部透過?2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。


鏡片反射率測定儀

測定入射角為45度的反射率(選配)

從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光,測定其反射率。


鏡片反射率測定儀


域的高精度&高速測定

實(shí)現(xiàn)高速測定

使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長同時(shí)分光測定,從而實(shí)現(xiàn)高速測定。

鏡片反射率測定儀


十分適用于測定細(xì)小部件、鏡片的反射率

新設(shè)計(jì)了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計(jì)不能進(jìn)行測定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

鏡片反射率測定儀

測定反射率時(shí),不需要背面防反射處理

將專用物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進(jìn)行被檢測物背面的防反射處理,就可測定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時(shí),在本公司的測定條件下進(jìn)行測定。

鏡片反射率測定儀


可選擇的膜厚測定方法

根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據(jù)用途選擇z佳的測定方法。


峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計(jì)算出膜厚的方法,對于測定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置,可以簡單地求出。

鏡片反射率測定儀


傅里葉轉(zhuǎn)換法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計(jì)算膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時(shí),可以幾乎不受噪音的影響進(jìn)行解析。

鏡片反射率測定儀


曲線調(diào)整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計(jì)算的反射率的差達(dá)到最小的構(gòu)造計(jì)算出膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進(jìn)行不會(huì)出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

鏡片反射率測定儀

多樣化應(yīng)用

高速、高精度地應(yīng)對多樣化測定需求。

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率,進(jìn)行涂層評價(jià)、物體顏色測定、膜厚測定。

數(shù)碼相機(jī)鏡片

投影儀鏡片

光讀取頭鏡片

眼鏡片

鏡片反射率測定儀


適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

LED包裝

半導(dǎo)體基板

鏡片反射率測定儀


適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

液晶彩色濾鏡

光學(xué)薄膜

鏡片反射率測定儀


適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。

棱鏡

反射鏡

鏡片反射率測定儀




近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W:規(guī)格


反射率測定透過率測定*145度反射測定*1
名稱近紅外顯微分光測定儀近紅外顯微分光測定儀用
透過測定選配件
近紅外顯微分光測定儀用
45度反射測定選配件
型號USPM-RU-W
測定波長380~1050nm
測定方法對參照樣品的比較測定對100%基準(zhǔn)的透過率測定對參照樣品的比較測定
測定范圍參照下列對物鏡的規(guī)格約?2.0mm
測定
再現(xiàn)性(3σ)*2
反射率測定使用10×、20×物鏡時(shí)±0.02[%]以下(430-1010nm)、
±0.2[%]以下(上述以外)
±1.25[%]以下(430-1010nm)、
±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外)
使用40×物鏡時(shí)±0.05[%]以下(430-950nm)、
±0.5[%]以下(上述以外)

厚膜測定±1% -
波長顯示分解能1nm
照明附件專用鹵素?zé)艄庠础?JC12V 55W(平均壽命700h)
位移受臺(tái)承載面尺寸:200(W)×200(D)mm  
承重:3 kg
工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺(tái)承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm
承重: 1 kg
工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質(zhì)量主體:約26 kg(PC除外)主體:約31 kg(PC除外)*3
控制電源箱:約6.7kg
裝置尺寸主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境水平無振動(dòng)的場所
溫度:15~30℃
濕度:15~60%RH(無結(jié)露)


*1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。



對物鏡

型號USPM-OBL10XUSPM-OBL20XUSPM-OBL40X
倍率10x20x40x
NA0.120.240.24
測定范圍*470μm34μm17μm
工作距離14.3mm4.2mm2.2mm
樣品的曲率半徑±5mm~±1mm~±1mm~


*4 點(diǎn)徑


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